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failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)
E. Ajith Amerasekera
(Autor)
·
Farid N. Najm
(Autor)
·
Wiley
· Tapa Dura
failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés) - Amerasekera, E. Ajith ; Najm, Farid N.
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Reseña del libro "failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)"
In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.
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El libro está escrito en Inglés.
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