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portada Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 (Volume 233) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 233) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
298
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9780443317422

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 (Volume 233) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 233) (en Inglés)

Hawkes Peter W.,HÿTch Martin (Autor) · Academic Press · Tapa Dura

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 (Volume 233) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 233) (en Inglés) - Hawkes Peter W.,HÿTch Martin

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Reseña del libro "Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 (Volume 233) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 233) (en Inglés)"

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part Two, Volume 233 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The release in the series features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, Mass Analyzers based on Fourier Transform, Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers, Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers, and Radiofrequency Mass Analyzers.

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