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portada Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
93
Encuadernación
Tapa Blanda
ISBN13
9783319888194

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (en Inglés)

Selahattin Sayil (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (en Inglés) - Sayil, Selahattin

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Reseña del libro "Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (en Inglés)"

Provides a single-source reference on contactless probing approaches for VLSI testing and diagnostic measurement Introduces readers to various optical contactless testing techniques, such as Electro-Optic Probing, Charge Density Probe, and Photo-emissive Probe Discusses the applicability and adaptability of each technique, based on multilayer metallization, wafer level techniques, and invasiveness Provides a comparison among various contactless testing techniques Describes a variety of industrial applications of contactless VLSI testing

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El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

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