Name: high resolution x-ray diffractometry and topography (en Inglés)
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Author: bowen, d. keith
ISBN: 9780850667585

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Formato

Libro Físico

Editorial

crc press

Autor

bowen, d. keith

Año

1998

Idioma

Inglés

N° páginas

264

ISBN

0850667585

ISBN13

9780850667585

Categorías

Química

high resolution x-ray diffractometry and topography (en Inglés)

Bowen, D. Keith (Autor) · crc press · Libro Físico

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