APOYA A TU SELECCIÓN! SÓLO POR HOY ENVÍO GRATIS A PENÍNSULA!   Ver más

Enviar a
Provincia de Madrid
0

Mi Cuenta

  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

menú

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
1454
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9789814745086
Categorías

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics (en Inglés)

Ma, Zhiyong ; Seiler, David G. (Autor) · Jenny Stanford Publishing · Tapa Dura

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics (en Inglés) - Ma, Zhiyong ; Seiler, David G.

Libro Nuevo Importado
Envío: 9 a 13 días háb.
495,99 €446,39 €
-10%
Libro Nuevo

Quedan 50 unidades

446,39 €
Llega entre el 31 Jul y el 10 Ago a Provincia de Madrid. Seleccionar ubicación

Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista

Ir a Mis Listas
Calcula el costo de envío

Reseña del libro "Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics (en Inglés)"

Nanoelectronics is changing the way the world communicates, and is transforming our daily lives. Continuing Moore's law and miniaturization of low-power semiconductor chips with ever-increasing functionality have been relentlessly driving R&D of new devices, materials, and process capabilities to meet performance, power, and cost requirements. This book covers up-to-date advances in research and industry practices in nanometrology, critical for continuing technology scaling and product innovation. It holistically approaches the subject matter and addresses emerging and important topics in semiconductor R&D and manufacturing. It is a complete guide for metrology and diagnostic techniques essential for process technology, electronics packaging, and product development and debugging--a unique approach compared to other books. The authors are from academia, government labs, and industry and have vast experience and expertise in the topics presented. The book is intended for all those involved in IC manufacturing and nanoelectronics and for those studying nanoelectronics process and assembly technologies or working in device testing, characterization, and diagnostic techniques.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

¿En qué Idioma está escrito el libro?

El libro está escrito en Inglés.

¿Cuál es la encuadernación de este libro?

La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes