Name: microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)
Price: 195.34 EUR
Availability: InStock
Author: Cullis, A. G. ; Hutchison, John L.
ISBN: 9783642068706

portada microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)

microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Ilustrado por

A. G. Cullis

John L. Hutchison

Editorial

Springer

Autor

Cullis, A. G. ; Hutchison, John L.

Año

2010

Idioma

Inglés

N° páginas

540

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 2.9 cm

Peso

0.77 kg.

ISBN

3642068707

ISBN13

9783642068706

Categorías

Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Electricidad, electromagnetismo y magnetismo
Dispositivos y materiales electrónicos

microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)

A. G. Cullis (Ilustrado por) · John L. Hutchison (Ilustrado por) · Springer · Tapa Blanda

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The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.

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