Name: VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (en Inglés)
Price: 113.55 EUR
Availability: InStock
Author: Sengupta, Anirban ; Dasgupta, Sudeb ; Singh, Virendra
ISBN: 9789813297661

portada VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (en Inglés)

VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Sengupta, Anirban ; Dasgupta, Sudeb ; Singh, Virendra

Idioma

Inglés

N° páginas

775

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 4.0 cm

Peso

1.09 kg.

ISBN13

9789813297661

Categorías

Hardware (o soporte físico del ordenador)
Seguridad informática
Ciencias de la computación

VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (en Inglés)

Sengupta, Anirban ; Dasgupta, Sudeb ; Singh, Virendra (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (en Inglés)"

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.

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