Name: Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés)
Price: 160.98 EUR
Availability: InStock
Author: Cox, David C.
ISBN: 9781643278469

portada Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

David C. Cox

Editorial

Morgan & Claypool

Idioma

Inglés

N° páginas

104

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

25.4 x 17.8 x 0.6 cm

Peso

0.37 kg.

ISBN13

9781643278469

Categorías

Normas científicas
Equipamiento, experimentos y técnicas científicas
Instrumentos e instrumentación

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés)

David C. Cox (Autor) · Morgan & Claypool · Tapa Dura

Libro NuevoOrigen: USA

Envío: 9 a 17 días háb.

189,39 €160,98 €

-15%

Libro Nuevo

Quedan 85 unidades

160,98 €

Recíbelo el Lunes 10 de Febrero

More Info

Envío GRATIS a península

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés)"

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

Opiniones del libro

¿Leíste este libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia evaluación.

Ver más opiniones de clientes

0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés) - Cox, David C.

Reseña del libro "Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology (en Inglés)"

Opiniones del libro

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

¿En qué Idioma está escrito el libro?

¿Cuál es la encuadernación de este libro?

Preguntas y respuestas sobre el libro

Opiniones sobre Buscalibre