Name: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)
Price: 104.44 EUR
Availability: InStock
Author: Yin, Xinmao ; Wee, Andrew T. S. ; Tang, Chi Sin
ISBN: 9783527349517

portada Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Año

2022

Idioma

Inglés

N° páginas

208

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

24.4 x 17.0 x 1.1 cm

Peso

0.34 kg.

ISBN13

9783527349517

Categorías

Análisis espectral | espectroquímica
Química física
Ciencia de materiales

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)

Xinmao Yin (Autor) · Andrew T. S. Wee (Autor) · Chi Sin Tang (Autor) · Wiley-Vch · Tapa Blanda

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Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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